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新低導(dǎo)通電阻SiC MOSFET加快車(chē)載主機(jī)逆變器普及

放大字體  縮小字體 發(fā)布日期:2020-07-14 10:24:27    來(lái)源:民族品牌網(wǎng)     瀏覽次數(shù):5    評(píng)論:0
導(dǎo)讀

近年來(lái),新一代電動(dòng)汽車(chē)(xEV)的進(jìn)一步普及,促進(jìn)了更高效、更小型、更輕量的電動(dòng)系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)。特別是在驅(qū)動(dòng)中發(fā)揮核心作用的主機(jī)逆變器系統(tǒng),其小型高效化已成為重要課題之一,這就要求進(jìn)一步改進(jìn)功率元器件。另外

近年來(lái),新一代電動(dòng)汽車(chē)(xEV)的進(jìn)一步普及,促進(jìn)了更高效、更小型、更輕量的電動(dòng)系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)。特別是在驅(qū)動(dòng)中發(fā)揮核心作用的主機(jī)逆變器系統(tǒng),其小型高效化已成為重要課題之一,這就要求進(jìn)一步改進(jìn)功率元器件。

另外,在電動(dòng)汽車(chē)(EV)領(lǐng)域,為延長(zhǎng)續(xù)航里程,車(chē)載電池的容量呈日益增加趨勢(shì)。與此同時(shí),要求縮短充電時(shí)間,并且電池的電壓也越來(lái)越高(800V)。為了解決這些課題,能夠?qū)崿F(xiàn)高耐壓和低損耗的SiC功率元器件被寄予厚望。

近日,半導(dǎo)體制造商ROHM開(kāi)發(fā)出“1200V 第4代SiC MOSFET”,非常適用于包括主機(jī)逆變器在內(nèi)的車(chē)載動(dòng)力總成系統(tǒng)和工業(yè)設(shè)備的電源。

對(duì)于功率半導(dǎo)體來(lái)說(shuō),當(dāng)導(dǎo)通電阻降低時(shí)短路耐受時(shí)間就會(huì)縮短,兩者之間存在著矛盾權(quán)衡關(guān)系,因此在降低SiC MOSFET的導(dǎo)通電阻時(shí),如何兼顧短路耐受時(shí)間一直是一個(gè)挑戰(zhàn)。

新低導(dǎo)通電阻SiC MOSFET加快車(chē)載主機(jī)逆變器普及

此次開(kāi)發(fā)的新產(chǎn)品,通過(guò)進(jìn)一步改進(jìn)ROHM獨(dú)有的雙溝槽結(jié)構(gòu),改善了二者之間的矛盾權(quán)衡關(guān)系,與以往產(chǎn)品相比,在不犧牲短路耐受時(shí)間的前提下成功地將單位面積的導(dǎo)通電阻降低了約40%。

而且,通過(guò)大幅減少寄生電容(開(kāi)關(guān)過(guò)程中的課題),與以往產(chǎn)品相比,成功地將開(kāi)關(guān)損耗降低了約50%。

因此,采用低導(dǎo)通電阻和高速開(kāi)關(guān)性能兼具的第4代 SiC MOSFET,將非常有助于顯著縮小車(chē)載逆變器和各種開(kāi)關(guān)電源等眾多應(yīng)用的體積并進(jìn)一步降低其功耗。本產(chǎn)品已于2020年6月份開(kāi)始以裸芯片的形式依次提供樣品,未來(lái)計(jì)劃以分立封裝的形式提供樣品。

<特點(diǎn)>

1.通過(guò)改善溝槽結(jié)構(gòu),實(shí)現(xiàn)業(yè)界極低的導(dǎo)通電阻

新低導(dǎo)通電阻SiC MOSFET加快車(chē)載主機(jī)逆變器普及

ROHM通過(guò)采用獨(dú)有結(jié)構(gòu),于2015年成功實(shí)現(xiàn)溝槽結(jié)構(gòu)SiC MOSFET的量產(chǎn)。其后,一直致力于進(jìn)一步提高元器件的性能,但在降低低導(dǎo)通電阻方面,如何兼顧存在矛盾權(quán)衡關(guān)系的短路耐受時(shí)間一直是一個(gè)挑戰(zhàn)。

此次,通過(guò)進(jìn)一步改善ROHM獨(dú)有的雙溝槽結(jié)構(gòu),在不犧牲短路耐受時(shí)間的前提下,成功地使導(dǎo)通電阻比以往產(chǎn)品降低約40%。

2.通過(guò)大幅降低寄生電容,實(shí)現(xiàn)更低開(kāi)關(guān)損耗

新低導(dǎo)通電阻SiC MOSFET加快車(chē)載主機(jī)逆變器普及

通常,MOSFET的各種寄生電容具有隨著導(dǎo)通電阻的降低和電流的提高而增加的趨勢(shì),因而存在無(wú)法充分發(fā)揮SiC原有的高速開(kāi)關(guān)特性的課題。

此次,通過(guò)大幅降低柵漏電容(Cgd),成功地使開(kāi)關(guān)損耗比以往產(chǎn)品降低約50%。

 
(文/小編)
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